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SENTECH SENDURO 自動測量光譜橢偏儀

sentech SENDURO 自動測量光譜橢偏儀

SENDURO®, 革命性的光譜橢偏儀

優勢:
  • 高測量速率
  • 全自動樣品校準
  • 可測量透明和吸收基底
  • 按鍵式操作
  • 友好的軟件界面
  • 高測量精度
  • 最簡化安裝過程

分析一個樣品的時間只需不到10秒鐘,這個時間包括了所有必要的步驟:
  • 放置樣品
  • 點擊開始測量按鈕,進行如下步驟
    o自動樣品校準
    o測量數據
    o計算
    o輸出結果
  • 取出樣品

  SENDURO把使用者從煩瑣的手動調節樣品高度和傾斜度工作中解放出來,樣品對準是為了保證橢偏儀測量的可重復性和精確性。已獲得專利的自動樣品對準裝置能夠顯著減少操作失誤;能夠工作于透明或反射基底;能夠進行地貌圖測量,包括翹曲晶片。

  SENDURO自帶全面的預先定義的能夠進行多層膜分析的應用庫。SENDURO的智能自動建模功能能夠在測量時正確識別樣品的結構。

  SENTECH´s SENDURO® 軟件能夠測量單層膜和多層膜的厚度和折射率。全部操作在出色的操作向導指引下完成,可將操作者的對測量結果的影響減至最小。軟件提供大量測量應用作業庫,包含自動樣品校準、快速測量數據、擬合、結果報告等全部步驟。

  The SENDURO® 操作軟件帶有強大的分析工具,如自動建模、卓越的結果輸出功能、廣泛的可針對用戶定制的材料和膜層數據庫,可輕松更改現有的或創建全新的測量應用程序。軟件包含建模、仿真、擬合等功能,可出色完成對復雜樣品的分析。密碼控制用戶管理支持多用戶,并保證數據安全。
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